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洋書 Design and Test for Multiple Gbps Test Driven Development for Embedded C: Building Hihg Qualityの詳細情報
Test Driven Development for Embedded C: Building Hihg Quality。Growing Object-Oriented Software, Guided by Tests (The Addison。Buy VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability。81mLkut1SgL._AC_UF350,。。ペーパーバック洋書．天に少シミがあります．書き込みはなく，使用感少ないです．高速 伝送 テスト 試験 設計 ジッタ ジッター アイパターン 特性 評価 シグナル インテグリティ 物理層 high speedDesign and Test for Multiple Gbps Communication Devices and Systems
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